Métrologie appliquée aux sciences et technologies : MMT, optique, rugosité, essais

By: Material type: TextTextLanguage: fr. Series: (Collection capteurs et instrumentation dirigée par Dominique Placko) | Placko, Dominique ; Publication details: Paris : Lavoisier, 2009Description: 351pISBN:
  • 978-2-7462-2295-3
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Livre exclu du prêt Livre exclu du prêt Bibliothèque Ecole Polytechnique d'Abomey-Calavi Bibliothèque Ecole Polytechnique d'Abomey-Calavi 681.2/G882m (Browse shelf(Opens below)) 1 Available 15609EPAC

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